济南思克测试技术有限公司:品牌【SYSTESTER】
型号:THI-1801测厚仪(又称高精度薄膜测厚仪THI系列,纸张测厚仪,芯片测厚仪等)
检测范围:0~2mm(常规)0~6mm;12mm(可选)
执行标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353
THI-1801测厚仪
高精度薄膜测厚仪THI系列技术指标:
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
测量速度:25次/min(可调)
分 辨 率:0.1μm
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
测量范围:0~2mm(常规)0~6mm;12mm(可选)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
产品特点:
无须进入退出操作所有操作均可在一个平面内完
测试过程自动化完成
配置标准RS232通信口,利用专业计算机软件可zui大限度地挖掘试验数据价值
可支持以太网通信,方便数据联网
配置微型打印机,可自动打印试验数据
接触式厚度测量
可采用标准厚度计量工具标定、检验
可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理
手动、自动双重测量模式
TFT真彩色液晶显示
32位嵌入式系统控制技术
触摸屏操作
符合多种标准规定,标准接触面积、测量压力内嵌zui大值、zui小值、平均值、标准差等数据统计分析功能
量程可调(可根据要求定制)
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