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致茂Chroma 3110-FT 三温测试分类机

主要特色：

• 可设定温度范围 -40℃~125℃
• 适用于 FT测试
• 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到 45x45 mm
• 控制下压触力在1到10 kg (Optional)
• 具有4个产品分类料盘
• 支援远端控制操作
• 具有测试良率控制功能
• 具有连续自动重测功能
• 具有即时监控产品分类功能
• 整合Chroma混合型冰水机
• 支援 TSD 温度控制
• 蕞佳工程三温特性测试平台
• UPH 蕞高可达500 pcs
• 控制下压触力在1到10 kg (选配)
• Socket温度补偿模组 (选配)
• 可支授系统层级测试 (SLT) (选配)

Chroma 3110-FT为一台适用于IC终端测试（Final Test）工程产品特性及测试开发用途之测试分类设备。

3110-FT支持多种晶片测试，可支持的晶片尺寸从3x3 mm到45x45 mm。亦可加选远端监控功能，操作者得以在任何地点透过网路操作以增加设备使用率.3110-FT三温 测试分类机同时包含预温区，可改善测试时间及产出;配有2个自动分料盘及2个手动分料盘，在仅1.4平方米的空间发挥蕞佳的IC分料能力以节省成本与时间。

整合色度混合型冰水机与TEC致冷晶片温度控制器后，3110-FT可于进行测试三温测试时，同时控制壳温及接面温度。

3110-FT可支援大部分产业的标准通信介面以及提供不同种类测试设备的对接方式。可精准控制温度范围从-40℃到125℃。具有易于操作的软体介面以及可快速更换待测产品之设计。将可大幅缩短停机时间而进一步提高使用效率及产能。

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致茂Chroma 3110-FT 三温测试分类机