泰勒霍普森粗糙度仪surtronic s116
英国泰勒Surtronic S116粗糙度仪技术规格：
测量能力 | S-116 | S-128 | |
传感器 | 量程 | 200 µm / 100 µm / 10 µm | 400 µm / 100 µm / 10 µm |
| 分辨率 | 100 nm / 20 nm / 10 nm | 50 nm / 10 nm / 5 nm |
| 低噪音 (Ra) | 250 nm / 150 nm / 100 nm | 150 nm / 100 nm / 50 nm |
| 重复性 (Ra) | 1 % 值 + 噪 音 | 0.5 % 值 + 噪 音 |
| 传感器类型 | 电感 | |
| 测量力 | 150-300 mg | |
| 测头针尖半径 | 5 µm (200 µin)默认/2 µm (80 µin)或10 µm (400 µin) 可选 | |
| 测量类型 | 导块滑动 | |
校正 | 过程 | 自动软件校正程序 | |
| 标准 | 能够根据ISO 4287粗糙度标准校正 | |
分析 | 滤波器取样长度 | 0.25 mm/0.8 mm/2.5 mm | |
| 滤波器类型 | 2CR/高斯 | |
| 评价长度 | 0.25 mm-17.5 mm(0.01 in-0.70 in) | 0.25 mm-25.0 mm(0.01 in-1.00 in) |
| X轴zui大行程 | 17.5 mm | 25.5 mm |
速度 | 测量速度 | 1 mm/秒 (0.04 in/秒) | |
| 返回速度 | 1.5 mm/秒 (0.06 in/秒) | |
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