LDJD-C塑料绝缘介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创

产品简介

LDJD-C塑料绝缘介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创测试系统由测试装置（夹具）、高频Q表、数据采集和自动测量控件以及电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。

系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的&佳解决方案。

塑料介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创

技术参数

1. 信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz

2. 信号源频率精度3×10^-5 ±1个字, 6位有效数字；信号频率覆盖比11000：1；采样精度12BIT（高精度A/D采样）；

3．Q值测量范围：1～1000自动/手动量程；Q值分辨率0.1，4位有效数字；Q值测量工作误差＜5%；

4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

5．电感测量范围：1nH～140mH，分辨率0.1nH，自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；

6．电容直接测量范围：1pF～25nF，分辨率0.1pF，准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%；                                      

7．主电容调节范围： 17～240pF（一体镀银成型，精度高）；带步进马达，电容自动搜索；                                        

8． 材料测试厚度：0.1mm~10mm；

9． 合格指示预置功能范围：5～1000；

10．LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；

11．环境温度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13.（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆，平板电容器：

极片尺寸： 38mm

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

14. 电感组LKI-1：

分别由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

工作原理

本测试装置主要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组成，平板电容器用于夹持被测材料样品。而数显的微测量装置，用于显示被测材料样品的厚度。陪测设备介电常数及介质损耗测试仪作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进材料样品时的Q值变化，可测得绝缘材料的损耗角正切值。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到绝缘材料介电常数。

适用标准

LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪适用于固体和液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的测试，测试能力符合以下标准（样品尺寸应按标准要求制作）：

GB/T 1409-2006 《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》（等效IEC 60250：1969）

GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》