植物冠层分析仪*300原理与方法
植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪*采用的原理。在上述原理下， 植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中较省力、省时、快捷方便的方法。
仪器特点：
非破坏性地测定冠层结构
可以测量冠层内外的光合有效辐射(PAR)
手持式万向接头自动水平调整探头，无需三角架
随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样，
即时决定图像的取舍由外接锂电池组提供电源便于观测和长时间测量，
尤其适合完成野外繁重的观测任务
图像分析软件可以任意定义图像分析区域
(天顶角可分10区，方位角可分10区)。
对不同方向的冠层进行区域性分析时，
可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。
对不同天顶角起始角和终止角的选择，
可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，
通过手动调节阈值，可以测量出叶面积指数等参数
植物冠层分析仪*300技术参数：
镜头角度：150°(或用户自选180°镜头。
除用户有特殊需要，180°
鱼眼镜头经常不适合孔隙测量原理与方法所假设的前提条件，
用于冠层结构分析是不适宜和不经济的)
分辨率：768×494pix
测量范围：天顶角由0°～75°
PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm
测量范围0～2000μmol/㎡•S分析软件：植物冠层分析系统
显示和内存：决定于笔记本电脑的选择。
电源：锂电池组传输接口：USB 作温度：0～55℃
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