美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计产品简介：
美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长高能量曝光测量
ILT2400辐照计以手持价格提供研究级质量，采用可分离探头设计，具有8个量级的动态测量范围，测量速度可达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向查看读数或图形曲线。XSD340B探头响应波段326-401 nm，校准于365nm波长，可测量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源辐照强度。ILT测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。
国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测，校准于365nm光阻剂作用光谱，地知道光致抗蚀剂曝光的程度，可测量高达30W/cm2 高能量强度，用于PCB印刷电路板光及半导体业。
美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计探头参数：
ILT XSD系列光刻胶辐照度探头
ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长
ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长
ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光谱范围326-401 nm，中心波长365nm
ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高强度，测量光谱326-401 nm，校准于365nm
美国International Light Photoresist光阻剂曝光辐照度测光表探头选型
辐照计/探头组合 | 响应波长频谱 | 测量范围 | 类型及应用 |
ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm² | 台式，Photoresist光刻胶/光阻材料， |
ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，同上 |
ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， |
ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm² | 台式，Photoresist光刻/光阻剂，同上 |
ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， |
ILT2400, XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm² | 同上，大功率高强度辐照探头 |
ILT5000, SED033/B/W | 326-401 nm | 3e-10 ~ 0.2 W/cm² | 台式，Photoresist光刻/光阻剂， |
ILT2400, SED033/B/W | 326-401 nm | 2e-8 ~ 0.2 W/cm² | 手持式，同上 |
ILT1700, SED033/B/W | 326-401 nm | 5e-9 ~ 0.5 W/cm² | 台式，同上 |
ILT1000/B/W | 326-401 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，同上 |
ILT2400, XSD140B | 326-401 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， |
ILT2400, XSD340B | 326-401 nm | 2e-6 ~ 30 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，高强度测量 |
ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式，超薄传感器， |
另有UV固化测量系统ILT800传送带式紫外线固化设备曝光量测量，范围5e-3 ~ 40 W/cm2；LT2400+XSD340AT7 320-475 nm，校准于405nm中心波长，可测辐照强度范围高达60 W/cm²。ILT紫外杀菌测光系统ILT2400+SED254/QT，手持式，低可见度环境，高功率紫外线强度应用；ILT2400+SED185/NS185校准于185nm，臭氧/杀菌、光解废气、水处理行业。
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。