宽波段近红外光谱仪，可测波长900-2300nm范围
宽波段近红外光谱仪特点：
-可测波长范围900-2300nm
-适合近红外测量和需要宽光谱范围的应用
-512或1024像素扩展范围InGaAs光电二极管阵列（两种像素可选）
-集成的两级热电冷却器，可在-30摄氏度下运行
-增加的气流和的散热器，以增加稳定性
StellarNet的RED-Wave-NIRX-SR宽波段近红外光谱仪，可将900到2200μm的NIR波长范围合为一体。光谱仪非常坚固，没有活动部件，并包装在坚固的小型金属外壳（2.75x 4x 6英寸）中，适用于便携式，过程和实验室应用。InGaAs检测器是一个传感器线性光电二极管阵列，具有512个像素（1024个可选），高度为25μmx250μm，可提供信号性能。
检测器具有集成的两级热电冷却器（TEC），保持在-20℃，稳定在+/-0.1℃之内。RED-Wave-NIRX-SR-InGaAs光谱仪使用单链SMA 905光纤输入。
坚固–可拆卸的光谱仪组件和控制电子设备在坚固的金属外壳内进行保护，适用于便携式，过程，实验室和现场应用。
带有预设校准，光谱仪设置和快照存储器的板载存储器，可提供InGaAs阵列的瞬时光谱图像。
高速电子接口 可以直接连接到计算机的USB端口，以进行高速数据传输。提供Wifi /以太网通信选项以及其他接口。
近红外光谱仪的应用包括化学吸收，水分分析，滤光片和光学组件的传输以及高功率辐射测量，例如激光表征。
宽波段近红外光谱仪技术指标：
动态范围：4000：1，持续6年 | 尺寸：150 x 100 x 68.8毫米 |
解析度：13nm，缝隙为25μm | 功耗：5 VDC时为2 Amps |
InGaAs检测器：512或1024像素冷却的PDA | 接口：USB-2或无线上网2，RS232 3，SPI 3，4-20mA的3 ，数字I / O 3 或以太网3 |
探测器范围：0.9-2.3μm（900-2300nm） | 数据传输速度：30Hz或1000Hz 1 |
像素大小：25um x 250um | 检测器集成：1毫秒至200ms |
像素阱深度：130 x10 8个电子 | 狭缝尺寸选项：25um，以获得性能 |
可选井控制：130 x10 8 或5 x10 6 el。 | 操作系统：Windows和Linux 2，Andriod 2，iOS |
信噪比：12000：1，带2倍TEC冷却 | 随附软件：SpectraWiz程序，WinSDK（C，C＃，VB，Delphi），可定制的LabVIEW，用于Excel的VBA（CRI和LED报告） |
数字化器：16位 |
宽波段近红外光谱仪选型表：
RED-Wave-NIRX-SR光谱仪，可根据表格采购适合自己使用情况的规格。一般用户先确定波长范围和分辨率要求，再选择对应的光栅和狭缝。
主要选择自己要检测的波长范围。例如，我需要检测的波长是1000-2300nm，那我所选择的规格必须包括1000-2300这段波长，此时应该选择NIRX-SR白光系统效率曲线模型或者是NIRX-SR白光系统效率曲线模型，具体看像素和分辨率的要求。
InGaAs模型 | 像素 | 光谱仪范围（nm） | 光栅 | 光栅范围 | 色散（nm /像素） | 估计解析度 |
NIRX-SR白光系统效率曲线 | 512 | 900-2300 | 300 | 1400纳米 | 5.3 | <13nm |
NIRX-SR白光系统效率曲线 | 1024 | 900-2300 | 600 | 1400纳米 | 2.7 | <7nm |
红波近红外X白光系统效率曲线 | 512 | 1500-2200 | 300 | 700纳米 | 1.367 | 2.8纳米 |
红波近红外X白光系统效率曲线 | 1024 | 1500-2200 | 600 | 700纳米 | 0.683 | 1.4纳米 |
RED-Wave宽波段近红外光谱仪产品实物图：
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