美国CalMetrics测厚仪标准片

　　X射线镀层测厚仪标准样品|标准片|标准样片|标样

　　多年来，我们也在致力于为半导体生产行业，PCB厂商及一般电镀业等行业提供优质的售后服务。让客户满意，为客户创造Zui大限度价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。欲了解产品详情，请与我们联系

　　我司有美国THERMO X光莹光测厚仪专用标准片和美国CalMetrics X光莹光测厚仪专用标准片

　　测厚仪标准片又名膜厚仪校准片专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行的标准化校准这样使用使得测厚仪所测的误差值变小对于PCB，半导体生产行业，电镀行业 使用测厚仪所造成的成本检测起到了很重要的作用。

　　测厚仪标准片一般有分单层片，双层片和多层片。如Cu为单层片Ag/Cu双层片Cu-Zn/XX(Fe)多层片.

　　我司可以定做所有以知金属元素的标准片如：Cu, Ni, Ag, Au ,Zn, Sn等等

　　客户在联系我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素，以便我们更好的沟通，合作。

　　NICKEL (Ni) 镍

　　CSNI4 4u" (0.10um)

　　CSNI102 10u" (0.25um)

　　CSNI20 20u" (0.50um)

　　CSNI40 40u" (1.00um)

　　CSNI80 80u" (2.00um)

　　CSNI100 100u" (2.50um)

　　CSNI120 120u" (3.00um)

　　CSNI200 200u" (5.00um)

　　CSNI320 320u" (8.00um)

　　CSNI400 400u" (10.0um)

　　CSNI800 800u" (20.0um)

　　CSNIu" (27.5um)