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TFUV10

用于测量 200 nm 至 550 nm UV LED 总辐射功率的分光辐射计

• 杂散光光谱仪

• 100mm无荧光积分球、辅助灯和长效荧光还原灯

• 用户重新校准系统的可选校准标准

测量 UVC LED 时的特殊性

紫外光辐射（UV 辐射）用于各种任务。它可用于改变材料的物理特性——辐射固化——或治疗牛皮癣等皮肤病。水、空气和固体表面用紫外线辐射消毒。可以使用紫外线辐射检测多种气体和生物分子。在紫外线辐射的人工辐射源中，紫外线 LED 正在成为迄今为止占主导地位的气体放电灯的重要替代品。尽管 UV LED 技术还很年轻，但它正在快速发展，尤其是在 UVB 和 UVC 光谱范围内。测量 UV LED 总辐射功率的经典仪器是带有积分球的分光辐射计。

在设计用于 UV LED 的积分球光谱仪时，必须考虑准单色 LED 辐射的特性。LED 的单色紫外线辐射会导致积分球涂层发荧光，从而导致显着的测量误差，而这些误差无法通过传统的校正方法进行补偿。Gigahertz-Optik 实验室的研究证实，涂层和用于积分球的合成涂层在暴露于小于 250 nm 的 UVC LED 时都会发出荧光。这种荧光是由随着时间推移沉积在积分球涂层上的有机分子引起的。当 UV-LED 辐射 <= 230 nm 激发时，荧光的辐射通量甚至可以达到 UV-LED 自身辐射功率的大小。可以通过使用足够的紫外线辐射剂量照射有机分子来降低荧光水平。因此，有机分子被破坏，荧光值降低到计量检测极限以下。然而，这种措施没有持久的效果，因为随着时间的推移，额外的有机分子会积累。进一步的研究还表明，涂层的荧光比合成涂层少。此外，涂层的荧光减少具有更持久的效果。出于这个原因，与之前的指南相反，被推荐用作短波长紫外线测量应用的涂层材料。由于 Gigahertz-Optik 的 ODP97 涂层中的粘合剂剂量特别低，

借助 TFUV10-V01，Gigahertz-Optik 提供紫外光谱辐射计，用于测量 200 nm 至 550 nm 光谱范围内 UVA、UVB 和 UVC LED 的辐射功率。该仪器提供此应用所需的所有特性和功能：

用于辐射通量测量的积分球

用于总辐射通量测量的光谱辐射计的入口光学元件是一个直径为 100 毫米的积分球，输入孔径为 25.4 毫米。坚固的端口框架允许连接 LED 组件或可选的 2-Pi 校准标准。该标准允许用户对系统进行现场重新校准。辅助灯用于补偿被测器件引起的自吸收效应。球体涂层使用紫外线辐射进行预老化，这增加了涂层对紫外线辐射的长期稳定性，并将荧光效应降低到测量设备的检测极限以下。为了抑制荧光，额外提供了一个紫外线灯，它可以有效和地抑制低于 250 nm 的 UVC 辐射激发的荧光。

高分辨率光谱仪

BTS2048-UV-2-F 是 BTS2048 系列的一部分，该系列已在从高速 LED 分档到室外太阳辐射测量等各种要求严苛的应用中证明了自己。此类应用需要的精度和连续使用的可靠性。光谱辐射计直接连接到积分球上，不使用光导，提供 200 nm 至 550 nm 的光谱范围，光谱分辨率为 1 nm。遥控滤光片增加了动态范围。恒温CCD的像素点可以同步置零。此功能提供了测量脉冲链内单个脉冲的可能性。

杂散光和暗信号

杂散光和暗电平偏移对采用 CCD 或 CMOS 阵列传感器的紫外光谱仪的测量结果有显着影响。

• 杂散光错误地照亮像素，从而产生不是由所需波长产生的测量信号。如果杂散光没有得到适当的抑制，就不可能将 LED 的真实光谱与杂散光效果区分开来。BTS2048-UV-2-F 光谱仪通过集成光阱和滤光器提供创新的杂散光抑制。

• 暗信号的影响源于测量仪器的不同工作温度和针对特定辐照度水平调整的积分时间。BTS2048-UV-2-F光谱仪的暗信号快门用于测量暗信号，用于未来测量的暗信号校正。

数据记录仪

BTS2048-UV-2-F 由于其高灵敏度、强大的电子设备和快速的接口（USB 2.0 和以太网）支持高测量重复频率。它还用作记录时间信号变化的数据记录器。

一个完整的包

TFUV10-V01 为其预期用途提供了完整的包装。随附的软件*支持测量参数的设置和测量数据的评估。此外，它还允许控制系统的辅助灯。如果使用 Gigahertz-Optik 提供的可选校准光源之一，则用户也可以使用该软件进行系统重新校准。

工厂校准和 ISO/IEC/EN 17025 测试测量

Gigahertz-Optik 的测量实验室为其 TFUV10-V01 工厂校准提供高质量和可追溯性。工厂校准在 Gigahertz-Optik 的校准实验室中使用与 NMI 认可的测试测量相同的质量管理程序进行处理。可选择提供具有 ISO/IEC/EN 17025 测试证书的 NMI 认可的测试测量。

测量 BN-LDSF-2P 期间的 TFUV10-V01。

产品

TFUV10-V01

光谱辐射功率测量系统从 200 nm 到 550 nm。

TFUV10-V02

光谱辐射功率测量系统从 200 nm 到 430 nm。

LCR-20

用于平面样品的手持式光反射仪

• 快速精确的测量

• 两种测量几何

• 使用监控检测器进行自动校正以获得精度

• 基于 UV LED 的光源

紫外线反射

紫外线反射是材料的一个重要参数，例如，紫外线消毒灯装置的平面。当涉及到反射材料、墙壁颜色等的规格时，这一点尤为重要。

LCR-20紫外线反射测量仪

LCR-20 专为紫外光谱范围内的表面光反射测量而设计。45° 和 0° 测量几何形状是可能的，该设备包括一个准直 UV 辐射源（基于 LED），带有用于校正光源波动的参考检测器和一个 UV-37xx 检测器。使用特殊版本的多功能 X1 仪表直接测量、校正和评估信号。光源和仪表都使用电池运行。具有 USB 可充电锂离子类型的光源之一。对于现场重新校准，可选的 ODM 参考标准用于 45°/0°（漫反射）的校准，而对于 45°/45°（镜面反射）的重新校准，可选择提供紫外线增强镜。为确保可追溯性，参考标准有两个版本。一种带有可溯源校准，另一种没有校准。未经校准的版本在现场用作传输标准，其中相应的校准标准仅偶尔用于调整传输标准值。所有标准都在封闭的外壳中交付，以避免环境的外部影响。

用于徒手测量的测量装置

基于集成 UV LED 的光源由参考传感器跟踪并动态校正。这允许在现场进行徒手测量，因为对光源的所有影响（如温度、方向）都得到了校正。LCR-20 的特性之一是能够轻松执行快速测量：

1. 源和 X1-5 V01 仪表的连接

2. 对于 0/45° 位置的漫反射测量，请使用可选的 ODM 参考进行重新校准

3. 对准测试样品/表面

4. 开始测量

5. 显示测量值

6. 对于 45°/45° 的镜面反射测量，请使用镜面反射校准标准并重复第 3 至 5 项

7. 对于全反射测量，将第 5 项（漫反射 + 镜面反射）的两个测量结果相加

可追溯的测量

我们为需要可追溯测量值的应用提供 ODM 反射标准。

测量几何体 LCR-20

X1

LCR-20 光源带探测器

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仟渔

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