DECTRIS PILATUS3 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器  

1、产品特点：DECTRIS 混合像素光子计数X射线探测器

 PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的优点。
      与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
      实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力的快速计数电子设备,结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，*兼容所有实验室的X射线源。
       具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的*组合，并且是实验室中这些要求的全能匹配。

2、核心优势：DECTRIS 混合像素光子计数X射线探测器​
     - Mo，Ag和In量子效率> 90％
     - 直接检测清晰的空间分辨率
     - 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到高精度
     - 高动态范围
     - 荧光背景抑制
     - 同步辐射证明的辐射硬度
     - 免维护运行
     - 高可靠性：没有容易发生故障的密封或复杂，冷却至室温以下

 3、应用领域
     - 电荷密度分析
     - 配对功能（PDF）分析
     - 高分辨率化学结晶学
     - 高压/高温XRD
     - 关键尺寸SAXS
     - 计算机断层扫描（CT）
     - 无损检测（NDT）

4、技术参数：