日本TECLOCK得乐指针测厚仪|SM-1201得乐测厚规
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TECLOCK(日本得乐) SM-1201
得乐测厚规适用范围:
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
TECLOCK得乐测厚仪原理:
在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度.指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
得乐SM-1201测厚规技术参数:
1. 指式方式:指针式
2. 测量范围:0-10mm
3. zui小读数:0.001mm
4. 测量深度:120mm
5. 体积大小:(W*D*H)87*23*105mm
6. 重量:200g
以下型号根据客户具体情况选择
SM-1201 | 0.001 | 10 | 1.5(150) | 有 | φ8.5平(超硬) | φ8.5平(超硬) |
SM-1201LS | Sφ3(超硬) | Sφ8.5平(超硬) | ||||
SM-1201LW | Sφ3(超硬) | Sφ3平(超硬) |
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