3360 VLSI測試系統
主要特色：
- 50 MHz 測試頻率
- 608 個 I/O 通道
- 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
- 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
- 平行測試可達 32 devices
- Real Parallel Trim/Match 功能
- 直接裝設 SC312, TS670 針測卡
- 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
- Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
- SCAN test 選配 (512M)
- ALPG test 選配供記憶體用
- STDF 工具支援
- 人性化 Windows XP 操作環境
- CRAFT C/C++ 程式語言
- 即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
- 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.
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