3280 Test-In-Tray測試分類機

主要特色：

整合SD卡測試機與自動分類機功能
平行測試120個micro SD卡
Test-In-Tray
UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)
支援SD卡資料通訊協定
支援DC參數量測功能
Microsoft Windows XP OS
提供Tray Map與分類結果資訊
小機台體積 : 164cm x 79cm x 180cm
選配設備
3rd Party測試模組整合
Mini SD, SD與MMC的測試介面
SD卡資料寫入模組

Chroma 3280採用創新的技術整合SD卡測試機與自動分類機的功能，並利用Test-In-Tray的技術來達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳輸協定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測試的功能，3280為所有的SD卡類產品帶來了一個創新的測試方法，而這高效率的測試方法也為客戶帶來大幅降低生產成本的好處。此外，小機台的設計更可節省機台於測試廠之佔地面積。

對於低價的消費性產品而言,即使在生產成本上僅有些微的差距，製造商也會極為敏感。而這樣的特性往往是此類消費性產品在成品測試中之一大挑戰。對於SD卡類產品而言，為了能夠降低生產的成本，SD卡類製造商了解在SD卡的製程中必須採用Known Good Die(KGD)來進行生產。其主要的原因，乃是因為採用KGD生產的SD卡類產品，將可減少在成品測試中對於測試項目的要求，只需針對成品封裝過程中所可能產生的瑕疵進行檢測，而不需要再對整個晶片進行完整的測試。

Chroma 3280整合了測試機台與自動分類機的功能，並採用創新的設計，滿足採用KGD生產的SD 卡類產品的測試需求，不論是在機台的成本或是體積上，都比傳統的測試機台來的大幅降低，因此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測物置於IC托盤中直接測試的測試方式。利用這樣的測試方法，可以大幅節省傳統的測試方法因自動分類機在進行測試時，必須以機器手臂夾取每個待測元件所需花取的索引時間。因此，提供了一個zui有效率的測試方法。在Chroma 3280中,對於120個SD卡進行測試時所需花費的索引時間大約只有10秒鐘。

高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個專屬的SD卡測試機巢 (Test Hive)，此一測試機巢提供了能夠同時測試120個micro SD卡的測試能力。