X射线荧光光谱仪Spectra-4000配有真空系统，扩大了测试范围，提高了检测限，提高了数据的稳定性。
X射线荧光光谱仪特点
具有更高能量分辨率的硅片检测器提高了光元件的检测限，比Si引脚检测器高出100倍。测量范围更广，几乎可以满足所有常规材料的元素分析要求。
数据集成处理系统使数据采集速度更快，测量更稳定，重复性好，长时间稳定。
集成多个图像计算机化方法的软件使得数据测量更加准确和稳定。
软件*监控核心零件运行，确保安全运行。
专业真空系统提供更好的真空性能和出色的测试结果。
X射线荧光光谱仪Spectra-4000规格
可测元素：Na-U
元素含量：1ppm-99.99％
检测限：1ppm
测量时间：60-200s（可调）
能量分辨率：129±5eV
X射线管zui大输出电流：1mA
极限压力：6.7×10-2 Pa
样品室尺寸：610 * 320 * 100（mm）（无真空）/Φ100* h75（mm）（真空）
*工作稳定性（标准样品）：±0.05％（高含量）/协调0.002％（微量）
优异的重复性（标准样品）：0.06％（（高含量）/协和0.0025％（微量）
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