这款便携式薄膜测厚仪是便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等，这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k，薄膜厚度测量范围为350-1000nm.
这款便携式薄膜测厚仪不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种*设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可。
这款便携式薄膜测厚仪采用的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，
便携式薄膜测厚仪产品特色
USB接口供电，不需要额外的线缆供电
超级便携
方便现场使用
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便携式薄膜测厚仪参数
可测膜厚： 15nm-90微米；
波长范围: 360-1050nm
探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D
精度：1nm
斑点大小：>0.5mm
光源：LED混合光源（ 360-1050nm )
所测样品大小：10-150mm,
计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：300x110x500mm
重量：600克
便携式薄膜测厚仪应用
用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，
用于化学和生物薄膜测量，传感测量
用于光电子薄膜结构测量
用于半导体制造
用于聚合物薄膜测量
在线薄膜测量
光学镀膜测量
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