光纤特征参数测量仪FGC-GA是一种多功能光纤几何参数测量仪器,一台这样的仪器可以测量光纤v型槽块几何形状,芯对芯间距和芯X、Y偏移量,适合宽度高达15mm的多光纤阵列,具有1200微米视场以及自动横向扫描样品台方便测量。
光纤特征参数测量仪-暗场照明
暗场照明系统允许软件显示一个清晰的实时图像的阵列。这允许用户检查和成像的前面的阵列，并采取的V凹槽自己的测量。具有图像拼接的光纤特征参数测量仪FGC-GA能够以完美的细节生成v型槽阵列整体的完整图像。
光纤特征参数测量仪高效的软件
该光纤特征参数测量仪FGC附带了一个有效的软件包，其中包含在反射和传输模式之间切换的控制。这允许用户快速和容易得到核心和包层的几何测量，包括直径，非圆度和同心度。该软件包含所有标准电信光纤的测量模板，不过用户也可以创建自己的测量模板。这样就可以测量许多特殊类型的光纤，包括双包层光纤、弯曲不敏感光纤、多芯光纤等等。
光纤特征参数测量仪规格参数
单根光纤测量能力
光纤直径：高达1000微米
单模：标准电信
多模（梯度折射率）：OM1,OM2,OM3,OM4
多模（阶跃折射率）：从 50/125µm到1000µm包层直径
保偏光纤：80µm, 125µm PANDA
双包层光纤：小层厚20µm
多芯光纤：7芯
非圆光纤：5-8
测量重复精度如下：
芯径 <0.1µm
包层直径 <0.25µm
纤芯非圆度 <0.05%
包层非圆度 <0.1%
芯到包层同心度 <0.15µm
光纤阵列测量性能
大光纤宽度：15mm
光纤类型：单模，多模，保偏光纤
测量时间:<1分钟 @3个光纤阵列
MT ferrules: 芯相对于导销的位置
测量重复精度如下：
芯径 <0.1µm
纤芯X/Y偏移 <0.25µm
纤芯非圆度 <0.05%
纤芯-纤芯距离 <0.1%
光纤照明（反射）：双波长，850nm和525nm可转换
光纤照明（透射）：多LED阵列，850nm,
光纤照明（保偏）：外部模块，适合80~125微米
大视场：1200微米
成像CCD: 4864x3232像素分辨率
曝光： 全局快门，0.1ms到100ms曝光时间
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