一、HS-CST-50型夏比投影仪
HS-CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器,与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,对比直观,操作简单,效率高,是理化试验室的专用设备。
二、技术参数:
投影屏:¢200mm
放大倍数: 50X
光源: 12V 100W(卤钨灯)
电源: 220V 50Hz 150W
外型尺寸: 515×224×603mm
重量: 约18Kg
1.详细说明:
CST-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。
2、工作原理:
本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。
根据需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置方位一致。
3、主要参数:
投影屏直径: | ¢200mm |
工作台尺寸: | |
方工作台尺寸: | 110×125mm |
圆工作台直径: | ¢90mm |
工作台玻璃直径: | ¢70mm |
工作台行程: | |
纵向: | ±10mm |
横向: | ±10mm |
升降: | ±12mm(无刻度) |
工作台转动范围: | 0-360°(无刻度) |
放大倍数: | |
仪器放大倍率: | 50X |
物镜放大倍率: | 2.5X |
投影物镜放大倍率: | 20X |
光源(卤钨灯): | 12V 100W |
外形尺寸: | 515×224×603mm(长×宽×高) |
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