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致茂Chroma 3650-CX SoC 测试系统

主要特色：

• 50/100MHz测试工作频率
• 256个 I/O 通道(I/O Channel)
• 16/32 MW vector 记忆体
• 16/32 MW pattern instruction 记忆体
• Multi-site 测试可达 32 sites
• 16个 DPS 通道
• 8个 PMU 通道
• Per-Pin 时序频率测试单位
• 蕞高可选购1024M bit x 4 CH scan depth
• 可选购记忆体测试用ALPG
• 高达 16 high-voltage pins
• 16 个高性能 DPS 通道
• 每片 VI45 类比单板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道
• Windows® XP操作环境
• C++ 程式语言与图形人机介面设计
• 采用CRISP完整多样的系统软体工具
• 与周边设备相容性高
• All-in-One小型化气冷式机台设计，节省占地面积
• Cable Mount / Direct Mount

应用范围

• MCU/MCU + 嵌入式记忆体
• NAND Flash Controller
• PC I/O
• Switch ICs
• 智慧型电源管理装置
• 混合讯号、数位式、类比式 ICs
• ADC/DAC/CODEC ICs
• 各类消费性产品IC
• 适用工程研发、晶粒测试及 Final Test
• 电源 IC
• LED 驱动 IC

Chroma 3650-CX实现高性价比的IC测试系统 
3650-CX采用All-In-One的小型化设计，除了拥 有相当竞争性的机台价格之外，并具备高准确 性与高生产力。因此，能够降低客户的测试成 本与提升IC产品的利润。3650-CX具备多样化的 测试能力与强大的软体工具，能够用来测试包 含MCU，NAND flash controller, PC周边相关的 IC，Switch，LED驱动IC，以及Power IC和SoC等 产品。

强大且功能完整的3650-CX系统软体 - CRISP 
架构在Windows XP作业系统上的Chroma 3650-CX 的软体测试环境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform)，是一个结合工程 开发与量产需求的软体平台。主要包含四个部 份 : 执行控制模组、资料分析模组、程式除错 模组以及测试机台管理模组。透过亲切的图形 人机介面的设计，CRISP提供多样化的开发与除 错工具，包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 与Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 软体模组，可满足研发/测试工程师开发程式时 的需求与产线人员量产时的需求。

All-in-One小型化机台设计节省占地面积 
3650-CX将所有的测试仪器模组与机台的电源系 统全部整合在单一个测试头的空间里，并且采用 气冷式的设计。透过如此高整合度的小型化设 计，可以大幅减少机台的占地面积，以节省整体 的测试成本。

周边设备 
Chroma 3650-CX支援多种装置的驱动程式介面 (TTL & GPIB) ， 可进行与晶圆针测机和送料机， 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等装 置之间的沟通。

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致茂Chroma 3650-CX SoC 测试系统