光耦参数测试仪 光耦参数检测仪 技术指标
光耦参数测试仪 型号：JFY3092B
JFY3092B光耦参数测试仪技术指标
5.1.1 耐压(BVCEO BVECO)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-1000V | 0.1V | <1%+2RD | 0-2mA |
5.1.2输入正向压降(VF)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-10V | 1mV | <1%+2RD | 0-400MA |
5.1.3输出端反向漏电流(ICEO)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2000uA | 1nA | <5% +5RD | 0-1000V（+/-1%） |
5.1.4反向漏电流(IR)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2000uA | 10nA | <5% +5RD | VR=0-10V（+/-1%） |
光耦参数测试仪 光耦参数检测仪 技术指标
5.1.5电流传输比(CTR)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-9999 | 1% | 1% +5RD | BVCE：0-10V IF:0-400MA （+/-1%） |
5.1.6输出导通压降(VCE(sat))
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-10.000V | 1mV | 1% +5RD | IC：0-400mA IF:0-400mA （+/-1%） |
5.1.7：可同时测通道数：1通道，2通道 4通道
5.1.8:可分档位总数：16
5.1.9可连接机械手测试。
页面价格只是配件价 以实际成交为准
文中标价和配图有不匹配的情况，请在购买前联系我核对
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。