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帕克PARK NX10原子力显微镜

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:
  • 品牌:
  • 产品类别:显微镜
  • 所在地:杭州市
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2021-06-22 12:00:19
  • 浏览次数:10
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产品简介

帕克PARK NX10原子力显微镜为您带来高纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析,Park NX10都可以在保证您专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据。

详情介绍

帕克PARK NX10原子力显微镜?为您带来高纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析,Park NX10都可以在保证您专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据。

 

 

The quickest path to innovative research

 Park NX10原子力显微镜为您带来高纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有 。无论是样品设定、全扫描成像还是测量与分析,Park NX10都能在每一步为您节约时间,让您可以更加专注于创新研究工作。 

 

Better accuracy means 

better data

帕克PARK NX10原子力显微镜?为您带来高纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。它是unique真正非接触式原子力显微镜,在延长探针使用寿命的同时,还能够良好地保护您的样品不受损坏。此外,柔性解耦XY轴和Z轴扫描器可带来的精确度和分辨率。

Better accuracy means 

better productivity

无论是样品设定、全扫描成像还是测量与分析,Park NX10都能在每一步为您节约时间。用户友好型界面、简易的激光准直系统、自动探针接近以及分析软件都能让您更快的获得研究结果。

Better accuracy means 

better research

当您有了更多充足的时间和更精确的数据,您可以更加专注于创新研究工作。即便是较为复杂的项目,Park NX10也能够凭借着众多的测量模式和可定制化设计满足您的所有需求。

 

2技术信息

Accurate AFM Solutions for General Research

Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector

 

Low Noise Z Detector of Park NX10 AFM

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode

·NX平台的关键技术改进和设计特点

·噪声水平为业界低,竞品无法匹敌

·默认的形貌信号

 

Z轴探测器是全新的NX系列原子力显微镜的核心技术改进之一。它是Park*的新型应变传感器。凭借着0.2埃的超低噪声,它一跃成为行业内噪声低的Z轴探测器。超低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号。通过对比全新的NX系列原子力显微镜与我们前几代的原子力显微镜,我们可以轻易地看到其中的差异。如果Z轴探测器的噪声过高,用户是无法观察到蓝宝石晶片的原子台阶。Park NX系列原子力显微镜的Z轴探测器所发出的高度信号,其噪声水平与Z轴电压形貌相同。

 

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode

 

The Best User Convenience by Design

Easy Tip and Sample Exchange

*的镜头设计让您能够轻易地从侧面更换新的探针和样品。借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂,您无需进行繁杂的激光准直工作。

 

 

Lightning Fast Automatic Tip Approach

得益于*的探针样品接近功能,用户无需进行干预操作,且悬臂装载后仅需10秒便可进行扫描。通过监控悬臂对于接近表面的反应,Park NX10能够在悬臂装载后10秒内,让探针自动快速接近样品。正是凭借着高速Z轴扫描器的快速信息反馈和NX电子控制器的低噪声信号处理,NX系列可让探针快速接近样品表面,且无需用户干预。

 

 

Easy, Intuitive Laser Beam Alignment

 凭借着我们先进的预准直悬臂架,悬臂在装载时激光便已完成聚焦。并且,自上而下的同轴视角,让您可以轻松地找到激光光点。由于激光垂直照射在悬臂上,您可以凭直觉旋动两个定位旋钮,将激光光点随着X轴和Y轴移动。这样,您可以在激光准直界面中,轻易地找到激光并将其定位在PSPD上。此时,您只需要稍作调整实现信号的大化,便可开始获取数据。

 

3. 原子力显微镜模式

Adaptable to any project

Electrical and Other Sample Characterization Modes

得益于众多的扫描模式和模块化设计,NX系列可轻易满足任何扫描探针显微项目的需求。

 

 

 

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