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AM4815ZT手持式偏光测量显微镜 工业半导体芯片检测显微镜,具有偏光功能,可以有效避免观察时反光引起的图片不清晰,亮白一片等问题;具有测量功能,可以对点线面角度等进行多方面的测量,倍数同步显示到软件中,保证测量数据的准确无误;在芯片检测中,可用EDR和EDOF功能合成大景深的显微高清图片,便于观察和研究。
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