LDJD系列介电常数仪介质损耗测试仪-航天伟创
介电常数测试仪的原理及适用
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质；通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。
介电常数测试仪采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路；使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
仪器组成
介电常数仪包含高频Q表，S916介质损耗测试工具，LKI-1电感组，并且可以选配液体杯以用于测试液态绝缘材料。
介电常数测试步骤
1. 测试前主机建议预热30分钟
2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容"两个端子上。
3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。
4. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm)，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。（小于0.5mm的样品测试，请参考附录三，叠加测试法）
5. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。
6. 再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值最大值）上。
7. 取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值最大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.
8. 计算被测样品的介电常数:
Σ＝D2 / D4
LDJD系列介电常数仪介质损耗测试仪-航天伟创
介电常数测试方法示意图
主要参数
1. 信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz；
2. 信号源频率精度3×10-5 ±1个字，6位有效数字；信号频率覆盖比7000：1；采样精度11BIT；
3．Q值测量范围：1～1000自动/手动量程；Q值分辨率0.1，4位有效数字；Q值测量工作误差＜5%；
4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
5．电感测量范围：1nH～8.4H，分辨率0.1nH，测量误差＜3%，带自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；
6．电容直接测量范围：1pF～2.5uF；
7．主电容调节范围：30～550pF；
8．准确度：100pF以下±1pF；100pF以上±1% ，分辨率0.1pF；
9．材料测试厚度：0.1mm~10mm；
10．合格指示预置功能范围：5～1000声光提示；
11．LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；
12．环境温度：0℃～+40℃；
13．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz；
14. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：
数显式微杆
平板电容器：
极片尺寸： Φ50mm/Φ38mm（二选一）
极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm
测试极片：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm
*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
15. 电感组LKI-1：
分别由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。
16. 主机尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280
17. 重量约：7KG
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。