500Vの印加電圧で試験可能！エレクトロケミカルマイグレーションテスター
絶縁抵抗測定器 ECM-500シリーズ日本J-RAS 500V离子迁移实验装置
製品の特⻑
1V〜500Vのワイド印加電圧&CH個別電圧出力で様々なサンプルの試験が可能
CH個別計測回路搭載により50msec/CHの高速スキャン処理
応答速度100nsec以下の瞬時リーク電流検出回路でリークタッチ現象を確実にキャッチ
最大100CHの筐体は小型軽量で場所を選ばず設置でき移設も容易
チャンバー扉開の接点利用で緊急停止または一時停止を行える安全機能
はんだ付け作業の負担を減らしミスを防ぐCH別カラーケーブルを採用
省電力の専用設計で130VAの省エネを実現(100CH実装)
シンプルで使いやすい専用ソフトウェア
日本J-RAS 500V离子迁移实验装置用途
プリント基板、はんだ、樹脂、絶縁材料等のマイグレーション評価。
最大500Vの印加電圧によりカーエレクトロニクス関連メーカーの試験要求にも対応。
离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ ION MIGRATION TESTING ）
在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
适用规格 ： JPCA- - ET01- - 2001
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