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哈特曼测量仪Hartmannometer为测量光学表面平整度设计

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:FPAKA-Hartmannometer
  • 品牌:
  • 产品类别:摄谱仪
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2022-06-14 08:41:17
  • 浏览次数:9
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产品简介

哈特曼测量仪Hartmannometer是为测量光学表面平整度设计的哈特曼分析计量仪器,是用方法和工作原理与菲索干涉仪(Fizeauinterferometer)*相同并且具有相同的性能

详情介绍

  哈特曼测量仪Hartmannometer是为测量光学表面平整度设计的哈特曼分析计量仪器,是用方法和工作原理与菲索干涉仪 (Fizeau interferometer) *相同并且具有相同的性能。

  哈特曼测量仪由激光束照射表面进行测量,用Shack-Hartmann波前传感器测量反射波前。

  哈特曼测量仪的*优点与菲索干涉仪相比)

  对振动不敏感

  在振动下,哈特曼图上的斑点会围绕它们的平均位置移动。通过选择较长的曝光时间,振动下的光斑质心与无振动时相同。

  现场测量

  一旦要测量的光学表面对齐,就不需要启动采集程序。结果显示在现场。它使消除振动对测量的影响变得更加容易。

  具有成本效益的技术

  这是一种成本较低的技术,它不使用昂贵的高平坦度光学元件。

  哈特曼测量仪技术规格

  光谱范围 122nm~10.6μm

  孔径 集成扩束器后无限制

  实测曲率 集成补偿光学元件后无限制

  精度 λ/30 rms

  横向分辨率 根据要求:通常为孔径的2/100

  接口 USB

  哈特曼测量仪软件适用于Windows 1087

  实时显示Hartmanogram和波前分析:Zernike多项式(标准和条纹)、2D-3D条纹图、2D-3D相位图、2D-3D强度图、M2、PSF、波前P-V&RMS;实时监测参数。

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