XTL-12B倒置金相显微镜半导体硅晶片检测地质矿物分析

使用的金相物镜及平场目镜，成像，分辨率高，观察舒适。

提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构。

选配相应的摄影摄像附件，可对观察图像进行采集和保存，配电脑和金相分析软件

图像进行金相图像分析。操作简便，附件，应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、工程测量等领域。

目镜:高眼点大视野目镜WF15X/13 高眼点大视野目镜WF20X/10mm

金相物镜: 长工作距平场消色差金相物镜100X

转换器:内定位五孔转换器
偏光装置: 起偏镜和检偏镜均可移出光路，检偏镜插板可360°旋转
摄影装置: 摄影接筒（带PK卡口），3.2X摄影目镜
摄像装置: 0.5X/1.0X C型摄像接筒

成像设备：300万像素工业相机、500万像素工业相机
软件:金相分析软件

光学系统：有限远色差校正系统
观察筒: 铰链式三目，45°倾斜，双边±5屈光度可调，瞳距调节范围：54-75mm，固定式分光比，双目:三目=80%:20%
目镜: 高眼点大视野平场目镜PL10X/18mm
金相物镜:长工作距平场消色差金相物镜5X，10X，20X、50X
转换器:内定位四孔转换器
调焦机构:低手位粗微调同轴调焦机构，粗动每转行程38 mm；微调精度2um，带松紧调节机构
载物台:三层机械移动平台，面积180mmX155mm，右手低手位控制，行程:75mm×40mm; 金属载物台板，中心孔直径φ12mm
照明系统:反射式柯拉照明，带可变孔径光阑和中心可调视场光阑，自适应90V-240V宽电压
6V30W卤素灯（可选配单颗3W LED灯），光强连续可调