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当前位置:上海银雀电子科技发展有限公司>>电子专用材料>>半导体材料>> ScanAsyst Air布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中-ScanAsyst Air

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中-ScanAsyst Air

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:ScanAsyst Air
  • 品牌:
  • 产品类别:半导体材料
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2023-05-18 08:34:56
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上海银雀电子科技发展有限公司

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产品简介

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针智能成像模式空气中—ScanAsystAir ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM

详情介绍

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air

ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve.

ScanAsyst 利用一种的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:

- 无论用户的技术水平,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。

- 可直接控制力的强弱,调到力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。

实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得优化让液态成像变得简单。

氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有<2度的悬臂弯曲。

详细规格:

延展阅读:

关于布鲁克:

布鲁克公司以的生产工艺,的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的,确保在应用领域中提供AFM解决方案。

布鲁克AFM探针制造中心:

*Class100级别的无尘室

*的设计、制造工序及制造工具

*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密

*训练有素的生产团队,制造出的探针

*的质量管理体系,确保探针性能

在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。

原子力显微镜AFM探针:

探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式

探针的结构:悬臂梁+针尖

探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。

制作工艺:半导体工艺制作

指标:

探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。

1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。

2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。

3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁末端的水平距离。

材质:

1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;

2. 接触模式探针:材质是SiN,而号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;

3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。

常用探针型号介绍:

常用探针型号介绍

1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP

2. 接触模式,SNL,NP,

3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。

6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。


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