CMI900系列   X射线荧光镀层测厚仪

仪器介绍

CMI900荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

适用范围

用于电子元器件，半导体，PCB，FPC，LED支架，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器，端子，卫浴洁具，首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量；

测量镀层，金属涂层，薄膜的厚度或液体（镀液的成分分析）组成。

主要特点

测量范围宽，可检测元素范围：Ti22–U92；

可同时测定5层/15种元素/共存元素较正；

精度高、稳定性好；

强大的数据统计、处理功能；

NIST认证的标准片；

服务及。

技术参数

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