单准直器组件X射线荧光镀层测厚仪仪器介绍

CMI900荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
 一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 

单准直器组件X射线荧光镀层测厚仪

单准直器组件X射线荧光镀层测厚仪自动样品台

1   程控样品台：XYZ轴自动控制。 
2   超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。 

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