便捷式牛津CMI165表面铜厚测量仪主要特点：

牛津仪器推出的cmi165，是世界带温度补偿功能的面铜测厚仪，手持式设计符合人体工学原理。一直以来，面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。cmi165的温度补偿功能解决了这个问题，确保测量结果精确而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探针防护罩，确保探针的耐用性，即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。

便捷式牛津CMI165表面铜厚测量仪产品规格： 

--利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量，符合EN 14571测试标准 
--厚度测量范围：化学铜：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils 
                电镀铜：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils 
--强大的数据统计分析功能，包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能。 
--数据显示单位可选择mils、μm或oz 
--仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择 
--仪器无需特殊规格标准片，同样可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量，可测线宽范围低至0.2 mm(8mil) 
--仪器可以储存9690条检测结果（测试日期时间可自行设定） 
--测试数据通过USB2.0实现高速传输，也可保存为Excel格式文件 
--客户可根据不同应用灵活设置仪器 
--用户可选择固定或连续测量模式 
--仪器使用普通AA电池供电 

便捷式牛津CMI165表面铜厚测量仪

深圳市鼎极天电子有限公司主营产品：膜厚仪,镀层测厚仪,膜厚测试仪,X射线测厚仪,镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪