525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪SV-C3200/SV-C4500
525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪特点：
表面粗糙度测量功能：
- 高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的zui高显示分辨力为0.0001μm（测量范围为8μm时）。
- X轴内置高精度玻璃光栅尺，直接读取X轴移动距离，在搞精度精准定位下，完成间距参数的评价。
- 检出器测力有4mN和0.75mN可选。
轮廓测量功能：
- Z1轴（检出器）上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm,同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。
- 专为SV-C-4500系统增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的功能。
- 装配双锥面测针，实现垂直方向（上/下）连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量得内螺纹有效直径。
- 测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重。
- 的表面粗糙度/轮廓FOTMTRACEPAK分析程序，通过简单的操作就能进行高级分析并即刻输出结果。
- 表面粗糙度测试仪和轮廓度测量仪结合在一起，节省安装空间。
525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪规格参数
货号 | CV-3200S4 | CV-3200H4 | CV-3200W4 | CV-3200S8 | CV-3200H8 | CV-3200W8 | |||
CV-4500S4 | CV-4500H4 | CV-4500W4 | CV-4500S8 | CV-4500H8 | CV-4500W8 | ||||
★量表面粗糙度时 | |||||||||
测量范围 | X轴（驱动部 | 100MM | 200MM | ||||||
Z1轴（检出器） | 800μm/80μm/8μm | ||||||||
直线度 | （0.05+L/1000）μm L:驱动长度（mm） | 0.5μm/200mm | |||||||
分辨力 | Z1轴（检出器 | 0.01μm（800μm），0.001μm（80μm），0.0001μm（8μm | |||||||
测力 | 0.75mN(机身代码末尾带“-1”的型号) 4N(机身代码末尾带“-2的型号) | ||||||||
测针针尖形状 | 60°，2μmR(机身代码末尾带“-1”的型号) 90°，5μmR(机身代码末尾带“-1”的型号) | ||||||||
对应尺寸 | JIS1982/JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ANSI/VDA | ||||||||
评价参数 | Pa,Pq.Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,P△q,Pmr(C),Pmr,P&c,Ra,Rc,RSm,R△q,Rmr(C),Rmr,R&c, Wa,Wq.Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,W△q,Wmr(C),Wmr,W&c Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,，AW,W,Wte,Ry,RyDIN.RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,lr,,△a,λa,λq,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW | ||||||||
轮廓分析 | 原始轮廓，粗糙度轮廓，滤波波纹轮廓，波纹轮廓，滚动圆波形原始轮廓，滚动圆波形轮廓，包络残余线，DF轮廓（DIN4776/ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF（包络波纹轮廓在评价MOTIF时显示） | ||||||||
分析图表 | 负荷曲线,振幅分布曲线，功率谱，自相关，Walsh功率谱，Walsh自相关，分布，倾斜角分布，参数分布（磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的原始分析） | ||||||||
曲线补充 | zui小平方直线、R面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿，双曲线补偿，二次曲线补偿，多顶式补偿（自动或任意2-7次），无补偿 | ||||||||
滤波器 | 高斯滤波器，2CRPC75，2CRPC50，2CR75，2CR50，鲁棒样条滤波器 | ||||||||
轮廓测量 | |||||||||
测量范围 | X轴（驱动部） | 100MM | 200MM | ||||||
Z1轴（检出器） | 60mm(水平位置±30mm) | ||||||||
直线度 | 0.8μm/100mm | 2μm/200mm | |||||||
精度
| X轴（驱动部） | ±（0.8+0.01L）μm L=驱动长度（mm） | ±（0.8+0.02L）μm L=驱动长度（mm） | ||||||
Z1轴（检出器） | SV-C3200系列：±（1.6+（2H）/100）μm SV-C4500系列：±（0.8+（2H）/100）μm H=水平位置上的测量高度（mm） | ||||||||
分辨力 | X轴（驱动部） | 0.05μm | |||||||
Z1轴（检出器） | SV-C3200系列：0.04μm SV-C4500系列：0.02μm | ||||||||
Z2轴（立柱） | 1μm | ||||||||
测力 | SV-C3200系列：30mN（可调使用重量） SV-C4500系列：10,20,30,40,50mN (根据软件转换) | ||||||||
测头方向 | SV-C3200系列：垂直方向（向上/向下单独测量） SV-C4500系列：垂直方向（向上/向下根据配重调整） | ||||||||
☆通用时 |
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Z2轴（立柱）移动量 | 300mm | 500mm | 300mm | 50mm | |||||
X轴倾斜角度 | ±45° | ||||||||
驱动速度 | X轴 | 0-80mm/s外加手动 | |||||||
Z2轴（立柱） | 0-30mm/s外加手动 | ||||||||
测量速度 | 0.02-5mm/s | ||||||||
注：虽然天然石材测量桌的外观各有不同，但材料的稳定性是值得信赖的。
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