XX-2型方块电阻测试仪(FOUR-POINT PROBE METER)(手持式)



XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似的标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。



特点：1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。

2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰

3、采用单个电池供电，带电池欠压指示

4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g

5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易

6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)

7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。



技术指标

测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(/口)

扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(/口)

测量不确定度≤5%

探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500 M

手握式探笔长度:约150mm或90mm;电缆联线长度:约1.5M

订货信息



货号 品名 备注 单价(元)

142200 XX-2型方块电阻测试仪 主机、装配DNT－1型或DNT－2型探头(无测试台) 8260.00/套

142204 DNT-1型四探针探头 1582.00/只

142206 DNT-2型四探针探头 1582.00/只

142205 DJ-2型电动测试台 样品直径150mm,有效高度50mm 7960.00