SX1934型数字式四探针测试计

SX－1934型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。它可以测量片状、块状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻）。换上特制的四探针测试夹，还可以以金属导体的低、中值电阻进行测量。

仪器由电气箱、测试架等部份组成，测试结果由数字直接显示。电气箱主要由高灵敏度直流数字电压表和高稳定恒流源组成。测试架探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针。故定位准确、游移率小、寿命长。 仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围宽、结构紧凑、使用方便等特点。仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。


订购指南

编号 品名 主要技术指标 单价(元)
146025 SX-1934型数字式四探针测试计 测量范围--电阻率：10-4～103Ω-cm，方块电阻：10-3～104Ω，电阻：10-6～105Ω
可测半导体材料尺寸--直径：15～100mm，长度：≤400mm
测量方法--轴向、断面均可
数字电压表--量程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V 误差：0.2mV量程 ±0.5% 读数±8字 其它量程 ±0.5% 读数±2字 输入电阻：0.2mV,2mV量程 >106Ω 其它量程: >108Ω 分辩率:0.1μV 显示：3位半数字显示，极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示
恒流源--直流电流0～100mA连续可调；量程：10，100μA，1，10，100mA；误差：±0.5% 读数±2字
四探针测试探头--探针间距：1mm；探针机械游移率：±1.0%；探针：碳化钨 直径0.5mm；压力：0～2Kg可调，zui大压力约2Kg
电 源--220V±10% 50Hz～60Hz；功 耗--<35W
外形尺寸--400（长）X440（宽）X120（高）mm
工作条件--温度：23±2℃ 相对湿度：60～70%；工作室内应无强电磁场干扰。不与高频设备共用电源


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