霍尔效应测试系统HEMS

测量包括：

• 迁移率测试

• DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs


• AC HEMS: 10cm2/Vs to 0.1cm2/Vs

• 载流子浓度测试

• 电阻率测试

• 电阻测量

• 低电阻范围 1uohm to 1Mohm

• 宽电阻范围 1uohm to 100Gohm

• 高电阻范围 1ohm to 100Gohm

• 范德堡法测试范围

• 霍尔巴法测试



磁帽:

• 可更换帽

• 标准25mm

• 在0-130mm间距连续可调

• 更大帽直径可选,50mm,75mm



电磁铁:

• ±2.5T@100mmgapwith25mmpoleface

• ±35V, ±70A电源

• 磁场>±IT@25mmpolegap

• 线圈电阻: 0.5 Ω (20°C)

• 水冷

温度选项:

• 低温 3K-300K

• 高温300K-1273K

纳米磁学高斯计:

• 磁场扫描采用集成高斯计

• 磁场校准采用霍尔探头

• 高灵敏度的磁场测量

• 所有参数可通过软件控制





样品架:

• 4,6 or8范德堡或霍尔巴测试设计

• 易于样品安装与弹簧连接

• 5mmx5mm样品大小(提供更大选件)

• 多个样品安装





控制器和软件:

• 使用我们软件可逐层的进行迁移率分析

• 基于C# 的全自动软件分析

• 非常宽的温度测试范围,3-1,300K

• 采用高斯计进行磁场的控制

• 非常容易的进行范德堡霍尔巴方法样品测试

• 提供软件终生升