CMI760台式面铜测厚仪工作特点：

  应用电涡流测试技术。测量时利用探头释放出电磁波，当磁场切割金属层时会发生磁场变化，通过计算此变化量计算出孔壁铜厚度。测量不受板内层影响，即使是双层板或多层板，甚至在有锡或锡/铅保护层的情况下，同样能够良好工作。另外，探头采用温度补偿技术，即使是刚从电镀槽内取出的板，也能测量孔铜厚度。

  CMI760是CMI700系列专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计；采用微电阻和电涡流方式测量表面铜和孔内镀铜厚度。具有多功能性、高扩展性和*的统计功能，统计功能用于数据整理分析。

CMI760台式面铜测厚仪

SRP-4面铜探头参数：

准确度：5%，参考标准片

精确度：化学铜：标准差0.2 %，电镀铜：标准差0.3 %

分辨率：0.1μm≥10μm，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm，0.01mils≥1 mil，0.001mils<1mil

厚度测量范围：化学铜：0.25μm–12.7μm（10μin–500μin）

电镀铜：2.5μm–254μm（0.1mil–10mil）

线性铜线宽范围：203μm–7620μm（8mil–300mil

CMI760台式面铜测厚仪主机参数：

存 储 量：8000字节，非易失性

尺    寸：长×宽×高292.1×270×140mm

重    量：2.79Kg

电    源：AC220V

单位转换：通过一个按键实现英制和公制的自动转换

单    位：可选mils 、μm、μin、mm、in或%为显示单位

接    口：RS-232 串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机

显    示：带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏，480(H)×32(V)象素

统计显示：测量个数，标准差，平均值，zui大值，zui小值

统计报告：需配置串行打印机或PC电脑下载，存储位置，测量个数，铜箔类型，线形铜线宽，测量日期/时间，平均值，标准差，方差百分比，准确度，zui高值，zui低值，值域，CPK 值，单个读数，时间戳，直方图

图    表：直方图，趋势图，X-R 图